光電檢測實驗設備

一、產品介紹

   光電檢測實驗設備-光電成像基礎與應用實訓平臺包括CCD和CMOS兩大方面，這兩方面原理與應用是《光電技術》和《圖像傳感器應用技術》課程重要章節，也是教學的難點章節，因此，monxyuan開發了光電檢測實驗設備-光電成像基礎與應用實訓平臺。該平臺采用搭建式、開放式設計，直觀展現了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理，并且設置了工程實際檢測的相關實驗。

二、教學目的

1、了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理；

2、了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法；

3、了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法；

4、了解并掌握運用面陣CCD和CMOS進行尺寸測量和圖像處理的方法；

5、了解并掌握學生掌握線陣CCD的幾種典型的應用；

三、實驗內容

1、面陣CCD 原理與驅動實驗；

2、面陣CCD 數據采集與計算機接口實驗；

3、面陣CCD 邊緣與輪廓檢測；

4、面陣CCD物體尺寸測量實驗；

5、面陣CCD 圖像的點運算；  

6、面陣CCD 圖像的幾何變換；

7、面陣CCD 圖像采集與參數設置；

8、面陣CCD 投影與差影圖像分析；

9、面陣CCD 圖像的濾波與增強；

10、面陣CCD 形態學處理；

11、面陣CCD 旋轉與縮放；

12、面陣CCD 顏色識別與變換；

13、面陣CCD圖像采集程序設計；

14、線陣CCD 工作原理與驅動波形觀測；

15、線陣CCD 模擬輸出信號的調整；

16、通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進行A/D轉換和數據采集；

17、通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進行二值化處理；

18、利用線陣CCD 對物體尺寸進行非接觸的實時測量；

19、利用線陣CCD 對物體的角度進行測量；

20、利用線陣CCD 測量物體的振動；

21、利用線陣CCD識別一維條形碼；

22、利用線陣CCD掃描物體的二維圖像；

23、利用外置相機進行實物尺寸測量

24、用硬件提取邊緣信號的二值化

25、CMOS原理與驅動實驗；

26、CMOS數據采集實驗；

27、CMOS圖像采集程序設計

28、CMOS用于邊緣與輪廓檢測實驗；

29、CMOS用于物體的尺寸測量實驗；

30、CMOS用于圖像采集與參數設置實驗；

31、CMOS用于投影與差影圖像分析實驗；

32、CMOS用于圖像的濾波與增強實驗；

33、CMOS用于顏色識別與變換實驗；

34、擴展性實驗

（1）通過提供的CPLD程序，學生可以了解CPLD對外圍器件的控制；

（2）有能力的學生還可以自己編程來產生方波；

（3）通過提供的SDK和DEMO程序，編寫程序來采集擴展相機的數字信號；

（4）利用擴展相機并編寫軟件進行其他如尺寸測量等實驗等；

36、墨水屏不同工作狀態的功耗測量實驗；

37、墨水屏驅動顯示實驗；

38、手勢控制墨水屏翻頁實驗；

四、配套文件資料

1、實驗指導書1本；

2、實驗軟件1套；

客戶自行配置電腦及示波器