電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測(cè)定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。

產(chǎn)品型號(hào)：MXY4000-4C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-07-10
訪(fǎng) 問(wèn) 量：3193

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產(chǎn)品分類(lèi)

物理光學(xué)與工程光學(xué)系列

普朗克常量實(shí)驗(yàn)儀激光散斑照相實(shí)驗(yàn)儀電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 晶體聲光效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀晶體磁光調(diào)制實(shí)驗(yàn)儀晶體電光調(diào)制實(shí)驗(yàn)儀幾何光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀應(yīng)用光學(xué)實(shí)驗(yàn)29項(xiàng) 物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備查看全部產(chǎn)品

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詳細(xì)介紹

MXY4000-4C 電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

一、儀器介紹

電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測(cè)定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。

二、儀器特點(diǎn)
結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、非接觸、靈敏性好、處理信息快、不必暗房操作、實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息。

三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)

四、實(shí)驗(yàn)配置

基本配置

激光器；加熱用電源；CCD攝像機(jī)；圖像采集卡；擴(kuò)束鏡；分束器；二維平移底座；待測(cè)物體；通用底座；干板架；白屏；反射鏡等；

自行配置 計(jì)算機(jī)；顯示器；打印機(jī)

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